1.

国際会議録

国際会議録
Priezzhev,A.V. ; Firsov,N.N. ; Vyshlova,M.G. ; Lademann,J. ; Richter,H. ; Kiesewetter,H. ; Mueller,G.J.
出版情報: Proceedings of optical diagnostics of biological fluids IV : 26-27 January 1999, San Jose, California.  pp.9-14,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3599
2.

国際会議録

国際会議録
Richter,H. ; Klimanek,P. ; Hensger,K.-E.
出版情報: Grain growth in polycrystalline materials : proceedings of the 1st International Conference on Grain Growth in Polycrystalline Materials, held in Rome, Italy, 18-21 June, 1991.  Pt.2  pp.765-770,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 94-96
3.

国際会議録

国際会議録
Lademann,J. ; Richter,H. ; Sterry,W. ; Priezzhev,A.V.
出版情報: Optical diagnostics and sensing of biological fluids and glucose and cholesterol monitoring : 22-23 January 2001, San Jose, USA.  pp.106-111,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4263
4.

国際会議録

国際会議録
Vanhellemont,J. ; Kissinger,G. ; Graf,D. ; Kenis,K. ; Depas,M. ; Mertens,P. ; Lambert,U. ; Heyns,M. ; Claeys,C. ; Richter,H. ; Wagner,P.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1755-1760,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Kuper,P-F ; Richter,H. ; Striebich,H.
出版情報: Proceedings of the 4th International Conference : Florence ATA 1994 : new design frontiers for more efficient, reliable, and ecological vehicles, Palazzo degli Affari, Firenze, Italy, March 16-17-18, 1994.  pp.167-182,  1994.  Warrendale, Pa..  Society of Automotive Engineering, Inc.
シリーズ名: SAE publication
シリーズ巻号: P-275
6.

国際会議録

国際会議録
Gaiseanu,F. ; Kissinger,C. ; Kruger,D. ; Richter,H.
出版情報: Process, Equipment, and Materials Control in Integrated Circuit Manufacturing IV.  pp.281-289,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3507