1.

国際会議録
国際会議録
1. Systematic investigation of CD metrology tool response to sidewall profile variation on a COG test mask [6281-16]
Gans, F. ; Liebe, R. ; Heins, Th. ; Richter, J. ; Hasler-Grohne, W. ; Frase, G. C. ; Bodermann, B. ; Czerkas, S. ; Dirscherl, K. ; Bosse, H.
出版情報: EMLC 2006 : 22nd European Mask and Lithography Conference : 23-26 January 2006, Dresden, Germany.  pp.62810D-,  2006.  Bellingham, Wash.,.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6281
2.

国際会議録
国際会議録
2. Radio Coverage of Urban Micro- and Macro-Cells Using Base Station Array Antennas with Adaptive Excitation
Richter, J. ; Al-Nuaimi, M. O. ; Ivrissimtzis, L.
出版情報: AP 2000 : millennium Conference on Antennas & Propagation, Davos, Switzerland, 9-14 April 2000.  2000.  Noordwijk, Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 444
3.

国際会議録
国際会議録
3. A cryogenic steering mirror for source selection in multi-integral-field spectrographs
Hofmann, R. ; Richter, J. ; Tomono, D. ; Weisz, H.
出版情報: Astronomical structures and mechanisms technology : 21-22 June 2004, Glasgow, Scotland, United Kingdom.  pp.644-651,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5495
4.

国際会議録
国際会議録
4. Results of a round robin measurement on a new CD mask standard
Gans, F. ; Liebe, R. ; Richter, J. ; Schatz, Th. ; Hauffe, B. ; Hillmann, F. ; Dobereiner, S. ; Bruck, H.-J. ; Scheuring, G. ; Brendel, B. ; Bettin, L. ; Roth, K.-D. ; Steinberg, W. ; Schluter, G. ; Speckbacher, P. ; Sedlmeier, W. ; Scherubl, T. ; HaBler-Grohne, W. ; Frase, C. G. ; Czerkas, S. ; Dirscherl, K. ; Bodermann, B. ; Mirande, W. ; Bosse, H.
出版情報: EMLC 2005 : 21st European Mask and Lithography Conference : 31 January-3 February, 2005, Dresden, Germany.  pp.122-133,  2005.  Bellingham, Wash.,.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5835
5.

国際会議録
国際会議録
5. Microgravity effects on ultrasonic absorption in molten salts.
Kirschbaum, E. ; Merkens, W. ; Rejek, E. ; Richter, J. ; Vogt, M.
出版情報: Proceedings of the VIIth European Symposium on Materials and fluid Sciences in Microgravity : held in Oxford, UK, 10-15 September 1989.  pp.481-484,  1989.  Paris, France.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 295
6.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
6. An investigation of heat transfer by leading edge film cooling applying the naphthalene sublimation technique
Richter, J. ; Jung, K. ; Hennecke, D. K.
出版情報: A.S.M.E. paper.  1996.  New York.  The American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
シリーズ巻号: 1996
7.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
7. Use of MpCCI to Perform Multidisciplinary Analyses for Electrical Distribution Equipment
Lyttle, I. ; Zolfaghari, A. ; Richter, J. ; Littler, S. ; Rodrigues, C. ; Parker, K. ; Collett, W.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2005.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 43rd
8.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
8. Heat transfer measurements on turbine airfoils using the naphthalene sublimation technique
Haring, M. ; Bolcs, A. ; Richter, J. ; Harasgama S. P.
出版情報: A.S.M.E. paper.  1994.  New York.  The American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
9.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
9. A Novel Approach for Achieving Coupled Electromagnetic-Thermal Analysis Capability
Reed, T. ; Richter, J. ; Rodrigues, C.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2004.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Multidisciplinary Analysis and Optimization Conference
シリーズ巻号: 10th
10.

国際会議録
国際会議録
10. Measurement tool influence on CD results on photolithographic masks [6283-113]
Richter, J. ; Liebe, R. ; Laske, F. ; Rudolf, J. ; Heins, T.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XIII.  pp.628315-628316,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6283