1.

国際会議録

国際会議録
Arnold, W. ; Amelio, S. ; Hirsekorn, S. ; Rabe, U.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.183-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
2.

国際会議録

国際会議録
Bendjus, B. ; Kohler, B. ; Heuer, H. ; Rabe, U. ; Striegler, A.
出版情報: Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano-Material Systems IV.  pp.617509-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6175
3.

国際会議録

国際会議録
Arnold, W. ; Hirsekorn, S. ; Kopycinska, M. ; Rabe, U. ; Reinstaedtler, M. ; Scherer, V.
出版情報: Nondestructive Evaluation and Reliability of Micro- and Nanomaterial Systems.  pp.53-64,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4703