1.

国際会議録
国際会議録
1. Stripe Filter Technology for Multispectral Science and Earth Observation
R. Geyl
出版情報: Proceedings of ESA/CNES ICSO 2006, sixth International Conference on Space Optics : 27-30 June 2006, ESTEC, Noordwijk, the Netherlands.  2006.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 621
2.

国際会議録
国際会議録
2. Precision Lightweight Optics for Science and Earth Observation from space
R. Geyl
出版情報: Proceedings of ESA/CNES ICSO 2006, sixth International Conference on Space Optics : 27-30 June 2006, ESTEC, Noordwijk, the Netherlands.  2006.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 621
3.

国際会議録
国際会議録
3. Optical figuring and testing of the VLT 8.2-m primary mirrors
P. Béraud ; J. Espiard ; R. Geyl ; J. Paseri ; P. Dierickx
出版情報: Optical manufacturing and testing : 9-11 July, 1995, San Diego, California.  pp.413-420,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2536
4.

国際会議録
国際会議録
4. EUV near normal incidence collector development at SAGEM
R. Mercier Ythier ; X. Bozec ; R. Geyl ; A. Rinchet ; C. Hecquet
出版情報: Emerging lithographic technologies XII.  2  pp.692135-1-692135-11,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6921
5.

国際会議録
国際会議録
5. Design, conception, and metrology of EUV mirrors for aggressive environments
C. Hecquet ; M.-F. Ravet-Krill ; F. Delmotte ; A. Jerome ; A. Hardouin ; F. Bridou ; Fr. Varniere ; M. Roulliay ; F. Bourcier ; J.-M. Desmarres ; V. Costes ; J. Berthon ; A. Rinchet ; R. Geyl
出版情報: Damage to VUV, EUV, and X-ray optics : 18-19 April 2007,Prague, Czech Republic.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6586