1.

国際会議録
国際会議録
1. Multiwavelength high-thermometry using spectrum analysis
Qi, X.M. ; Gao, Y.Q. ; Chen, H.M. ; Yuan, L.H. ; Zhu, X.J. ; Xing, J.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.329-332,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
2.

国際会議録
国際会議録
2. Design of new type of isosceles blazed grating
Gao, Y.Q. ; Shen, T.Z. ; Lu, H.B. ; Qi, X.M. ; Zhu, X.J.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.445-451,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
3.

国際会議録
国際会議録
3. Scaling method using laser interference for microdisplacement measurement system
Zhu, X.J. ; Qi, X.M. ; Gao, Y.Q. ; Yuan, L.H.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.779-783,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
4.

国際会議録
国際会議録
4. Emission spectral reconstruction of arc temperature fields
Gan, Y.H. ; Gao, Y.Q. ; Qi, X.M. ; Liu, J.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.469-473,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
5.

国際会議録
国際会議録
5. Numerical correction of infrared two-color thermometry
Yuan, L.H. ; Zhou, J.N. ; Gao, Y.Q. ; Zhu, X.J. ; Qi, X.M.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.738-744,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927