1.

国際会議録

国際会議録
Hu, T. ; Yang, J. ; Pu, Z.B.
出版情報: Optical information processing technology : 16-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.436-441,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4929
2.

国際会議録

国際会議録
Liu, G.D. ; Pu, Z.B. ; Zhang, Z. ; Sun, Y.B.
出版情報: Optical information processing technology : 16-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.475-480,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4929
3.

国際会議録

国際会議録
Tao, W. ; Pu, Z.B. ; Zhuang, Z.T.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.163-169,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
4.

国際会議録

国際会議録
Qu, Y.F. ; Pu, Z.B. ; Liu, G.D.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.581-585,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
5.

国際会議録

国際会議録
Tao, W. ; Pu, Z.B. ; Zhang, Z.
出版情報: Interferometry XI: Applications.  pp.288-292,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4778