1.

国際会議録
国際会議録
1. Sapphire statistical characterization and risk reduction program
McClure,D.R. ; Cayse,R. ; Black,D.R. ; Goodrich,S.M. ; Lagerlof,K.P.D. ; Harris,D.C. ; McCullum,D. ; Platus,D.H. ; Patty Jr.,C.E. ; Polvani,R.S.
出版情報: Window and dome technologies and materials VII : 16-17 April 2001, Orlando, USA.  pp.20-30,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4375
2.

国際会議録
国際会議録
2. Using advanced diagnostics to detect subsurface damage in sapphire
Black,D.R. ; Braun,L.M. ; Burdette,H. ; Evans,C.J. ; Hockey,B.J. ; Polvani,R.S. ; White,G.S.
出版情報: Optical manufacturing and testing II : 27-29 July 1997, San Diego, California.  pp.272-283,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3134
3.

国際会議録
国際会議録
3. Detection of subsurface damage:studies in sapphire
Black,D.R. ; Polvani,R.S. ; Braun,L.M. ; Hockey,B.J. ; White,G.S.
出版情報: Window and Dome Technologies and Materials V.  pp.102-114,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3060