1.

国際会議録
国際会議録
1. TEMPERATURE AND POLARIZATION DEPENDENCE OF THE OPTICAL ABSORPTION IN ZnGeP2 AT TWO MICROMETERS
Shah, M. ; Ohmer, M. C. ; Fischer, D. W. ; Fernelius, N. C. ; Manasreh, M. O. ; Schunemann, P. G. ; Pollak, T. M.
出版情報: Physics and applications of defects in advanced semiconductors : symposium held November 29-December 1, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.463-,  1994.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 325
2.

国際会議録
国際会議録
2. Photoluminescence and EPR of phosphorus vacancies in ZnGeP2
Moldovan, M. ; Stevens, K. T. ; Halliburton, L. E. ; Schunemann, P. G. ; Pollak, T. M. ; Setzler, S. D. ; Giles, N. C.
出版情報: Infrared applications of semiconductors III : symposium held November 29-December 2, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.445-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 607
3.

国際会議録
国際会議録
3. Analysis of Cr-doped CdGeAs2 using thermal admittance spectroscopy
Smith, S. R. ; Evwaraye, A. O. ; Ohmer, M. C. ; Saxler, A. W. ; Goldstein, J. T. ; Solomon, J. ; Schunemann, P. G. ; Pollak, T. M.
出版情報: Infrared applications of semiconductors III : symposium held November 29-December 2, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.465-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 607
4.

国際会議録
国際会議録
4. Photoinduced changes in the charge states of native donors and acceptors in ZnGeP2
Stevens, K. T. ; Setzler, S. D. ; Schunemann, P. G. ; Pollak, T. M. ; Giles, N. C. ; Halliburton, L. E.
出版情報: Infrared applications of semiconductors III : symposium held November 29-December 2, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.379-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 607
5.

国際会議録
国際会議録
5. Temperature dependent hall measurements on CdGeAs2
Ptak, A. J. ; Jain, S. ; Stevens, K. T. ; Myers, T. H. ; Schunemann, P. G. ; Setzler, S. D. ; Pollak, T. M.
出版情報: Infrared applications of semiconductors III : symposium held November 29-December 2, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.427-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 607
6.

国際会議録
国際会議録
6. Polarized Raman Scattering Study of ZnGeO2 Single Crystals
Tlali, Spirit ; Jackson, Howard E. ; Ohmer, M. C. ; Schunemann, P. G. ; Pollak, T. M.
出版情報: Infrared applications of semiconductors II : symposium held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.543-,  1998.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 484
7.

国際会議録
国際会議録
7. Electron-Nuclear Double Resonance Study of the Zinc Vacancy in Zinc Germanium Phosphide (ZnGeP2)
Stevens, K. T. ; Setzler, S. D. ; Halliburton, L. E. ; Fernelius, N. C. ; Schunemann, P. G. ; Pollak, T. M.
出版情報: Infrared applications of semiconductors II : symposium held December 1-4, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.549-,  1998.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 484
8.

国際会議録
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8. Electron Paramagnetic Resonance and Photoluminescence Studies of Point Defects in Zinc Germanium Phosphide (ZnGeP2)
Setzler, S. D. ; Halliburton, L. E. ; Giles, N. C. ; Schunemann, P. G. ; Pollak, T. M.
出版情報: Infrared applications of semiconductors - materials, processing, and devices : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A.  pp.327-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 450
9.

国際会議録
国際会議録
9. Laser damage threshold of single crystal ZnGeP2 at 2.05 μm [5991-03]
Zawikski, K. T. ; Setzler, S. D. ; Schunemann, P. G. ; Pollak, T. M.
出版情報: Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2005.  pp.599104-599104,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5991