1.

国際会議録
国際会議録
1. Defect Identification in (La,Sr)CoO3-ｦﾄ Using Positron Annihilation Spectroscopy
Friessnegg, T. ; Nielsen, B. ; Ghosh, V. J. ; Moodenbaugh, A. R. ; Madhukar, S. ; Aggarwal, S. ; Keeble, D. J. ; Poindexter, E. H. ; Mascher, P. ; Ramesh, R.
出版情報: Ferroelectric thin films VII : symposium held November 30-December 3, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.161-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 541
2.

国際会議録
国際会議録
2. Oxygen deficiency and vacancy formation in LSCO/PLZT/LSCO capacitors
Friessnegg, T. ; Nielsen, B. ; Ghosh, V. J. ; Aggarwal, S. ; Keebel, D. J. ; Poindexter, E. H. ; Ramesh, R.
出版情報: Ferroelectric thin films VIII : symposium held November 29-December 2, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.393-,  2000.  Warrendale, PA.  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 596
3.

国際会議録
国際会議録
3. The effect of beam species and anneal history on silicon surface damage induced by ion beam etching
Davis, R. J. ; Singh, R. ; Fonash, S. J. ; Caplan, P. J. ; Poindexter, E. H.
出版情報: Thin films and interfaces II : symposium held November 1983, in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.607-612,  1984.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 25
4.

国際会議録
国際会議録
4. Vacancy Related Defects in La0.5Sr0.5CoO3-ｦﾄ Thin Films
Keeble, D. J. ; Madhukar, S. ; Nielsen, B. ; Krishnan, A. ; Asoka-Kumar, P. ; Aggarwal, S. ; Ramesh, R. ; Poindexter, E. H.
出版情報: Epitaxial oxide thin films III : symposium held March 31-April 2, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.229-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 474