1.

国際会議録
国際会議録
1. Photons and Forces II: Forces Influence Light
Pohl W. D.
出版情報: Forces in scanning probe methods.  pp.249-262,  1995.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 286
2.

国際会議録
国際会議録
2. Photons and Forces I: Light Generates Force
Pohl W. D.
出版情報: Forces in scanning probe methods.  pp.235-248,  1995.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 286
3.

国際会議録
国際会議録
3. "Some Remarks on the History of Near-Field Optics"
Pohl W. D.
出版情報: Near field optics.  pp.1-5,  1993.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 242
4.

国際会議録
国際会議録
4. Quo Vadis, Near Field Optics?
Pohl W. D. ; Hecht B. ; Heinzelmann H.
出版情報: Nanoscale science and technology.  pp.175-183,  1998.  Boston.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 348
5.

国際会議録
国際会議録
5. Light Propagation in Scanning Near-Field Optical Microscopy
Novotny L. ; Pohl W. D.
出版情報: Photons and local probes.  pp.21-33,  1995.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 300
6.

国際会議録
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6. "Tunnel" Near-Field Optical Microscopy: TNOM-2
Hecht B. ; Pohl W. D. ; Heinzelmann H . ; Novony L.
出版情報: Photons and local probes.  pp.93-107,  1995.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 300
7.

国際会議録
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7. "Optical Tunneling through and Adjustable Liquid Metal Cap"
Pohl W. D. ; Courjon D. ; Bainier C. ; Dereux A. ; Heinzelmann H.
出版情報: Near field optics.  pp.51-58,  1993.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 242
8.

国際会議録
国際会議録
8. Local Exitation of Surface Plasmons by TNOM
Hecht B. ; Pohl W. D. ; Novotny L.
出版情報: Optics at the nanometer scale : imaging and storing with photonic near fields.  pp.151-161,  1996.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 319
9.

国際会議録
国際会議録
9. STM and Related Techniques
Pohl W. D.
出版情報: Point and extended defects in semiconductors.  pp.183-200,  1989.  New York.  Plenum Press
シリーズ名: NATO ASI series. Series B, Physics
シリーズ巻号: 202