1.

国際会議録

国際会議録
Ballesteros, C. ; Piqueras, J. ; Llopis, J. ; Gonzalez, R.
出版情報: Defect properties and processing of high-technology nonmetallic materials : symposium held November 1983 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.229-232,  1984.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 24
2.

国際会議録

国際会議録
Plugaru, R. ; Craciun, G. ; Bercu, M. ; Rams, J. ; Piqueras, J.
出版情報: Optical microstructural characterization of semiconductors : sympoisum held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.209-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 588
3.

国際会議録

国際会議録
Hidalgo, P. ; Mendez, B. ; Piqueras, J. ; Dutta, P. S.
出版情報: Optical microstructural characterization of semiconductors : sympoisum held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.239-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 588
4.

国際会議録

国際会議録
Torres, A. ; Jimenez, J. ; Gomez, P. ; Piqueras, J.
出版情報: Microstructure of irradiated materials : Symposium held November 29-1 December, 1994, Boston, Massachusetts USA.  pp.431-,  1995.  Pittsburgh, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 373
5.

国際会議録

国際会議録
Hidalgo, P. ; Mendez, B. ; Piqueras, J. ; Dutta, P. S.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors, II : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.639-,  1998.  Warrendale, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 510
6.

国際会議録

国際会議録
Castaldini, A. ; Cavallini, A. ; Fernandez, P. ; Fraboni, B. ; Piqueras, J.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications II : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.269-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 487
7.

国際会議録

国際会議録
Pal, U. ; Piqueras, J. ; Dutta, P. S. ; Bhat, H. L. ; Dubey, G. C. ; Kumar, Vikram ; Dieguez, E.
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing II : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.537-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 406
8.

国際会議録

国際会議録
Zaldivar, M. Herrera ; Fernandez, P. ; Piqueras, J.
出版情報: Nitride semiconductors : symposium held December 1-5, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.703-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 482
9.

国際会議録

国際会議録
Cremades, A. ; Albrecht, M. ; Ulloa, J. M. ; Piqueras, J. ; Strunk, H. P. ; Hanser, D. ; Davis, R. F.
出版情報: Optical microstructural characterization of semiconductors : sympoisum held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.81-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 588
10.

国際会議録

国際会議録
Plugaru, R. ; Piqueras, J. ; Mendez, B. ; Craciun, G. ; Nastase, N.
出版情報: Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors--1998 : symposium held November 30-December 3, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.63-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 536