1.

国際会議録
国際会議録
1. Comparison of contamination model predictions to LDEF surface measurements
Rantanen, Ray ; Gordon, Tim ; Finckenor, Miria ; Pippin, Gary
出版情報: Optical systems contamination and degradation : 20-23 July 1998, San Diego, California.  pp.260-271,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3427
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. Comparison of Spacecraft Contamination Models with Well-Defines Flight Experiment
Pippin, Gary ; Hill, Sylvester G.
出版情報: NASA Technical Reports.  19960015564  (NASA-CR-200520),  pp.1-15,  1996.  National Aeronautics and Space Adminstration
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Comparison of Spacecraft Contamination Models with Well-Defined Flight Experiment
Pippin, Gary
出版情報: NASA Technical Reports.  19980003847  (NASA-CR-205211),  pp.1-27,  1997.  National Aeronautics and Space Adminstration
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. LDEF MATERIALS/CONTAMINATION
Pippin, Gary
出版情報: NASA Technical Reports.  19970037537  (NASA-CR-205361),  pp.1-65,  1997.  National Aeronautics and Space Adminstration