1.

国際会議録

国際会議録
Perera,A.G.U. ; Matsik,S.G. ; Francombe,M.H.
出版情報: Infrared Detectors and Focal Plane Arrays IV : 10-11 April 1996, Orlando, Florida.  pp.142-151,  1996.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2746
2.

国際会議録

国際会議録
Perera,A.G.U. ; Shen,W.Z. ; Liu,H.C. ; Buchanan,M. ; Tanner,M.O. ; wang,K.L.
出版情報: Detectors, focal plane arrays, and imaging devices II : 18-19 September 1998, Beijing, China.  pp.154-159,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3553
3.

国際会議録

国際会議録
Yuan,H.X. ; Perera,A.G.U. ; Francombe,M.H. ; Gamage,S.K. ; Liu,H. ; Buchanan,M. ; Schaff,W.J.
出版情報: Infrared detectors for remote sensing : physics, materials, and devices : 8-9 August 1996, Denver, Colorado.  pp.90-97,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2816
4.

国際会議録

国際会議録
Perera,A.G.U. ; Shen,W.Z. ; Francombe,M.H. ; Shure,M.A. ; Liu,H.C. ; Buchanan,M. ; Schaff,W.J.
出版情報: Infrared astronomical instrumentation : 23-25 March 1998, Kona, Hawaii.  Part 1  pp.39-47,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3354
5.

国際会議録

国際会議録
Shen,W.Z. ; Perera,A.G.U.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  4086  pp.128-131,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
6.

国際会議録

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Perera,A.G.U. ; Matsik,S.G. ; Letov,V.Y. ; Liu,H.C. ; Shen,A. ; Gao,M. ; Wasilewski,Z.R. ; Buchanan,M. ; Rolfe,S.J.
出版情報: Photodetectors : materials and devices VI : 22-24 January 2001, San Jose, USA.  4288  pp.371-378,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4288