1.

国際会議録

国際会議録
Pendse,D.R. ; Chin,A.K. ; Bull,D. ; Maider,J.
出版情報: Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices.  pp.1-13,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4285
2.

国際会議録

国際会議録
Dabkowski,F.P. ; Pendse,D.R. ; Barrett,R.J. ; Chin,A.K. ; Jollay,R. ; Clausen,E.M. ; Hughes,Jr.,L.C. ; Sanders,N.B.
出版情報: Semiconductor Lasers II.  pp.36-49,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2886
3.

国際会議録

国際会議録
Hu,C. ; Mahajan,S. ; Dabkowski,F.P. ; Pendse,D.R. ; Barrett,R.J. ; Chin,A.K.
出版情報: Semiconductor Lasers II.  pp.59-66,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2886
4.

国際会議録

国際会議録
Pendse,D.R. ; Chin,A.K. ; Dabkowski,F.P. ; Clausen,E.M.
出版情報: Semiconductor Lasers III.  pp.79-85,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3547