1.
国際会議録
Pendse,D.R. ; Chin,A.K. ; Bull,D. ; Maider,J.
出版情報:
Testing, Reliability, and Applications of Optoelectronic Devices . pp.1-13, 2001. Bellingham, Wash.. SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
4285
2.
国際会議録
Dabkowski,F.P. ; Pendse,D.R. ; Barrett,R.J. ; Chin,A.K. ; Jollay,R. ; Clausen,E.M. ; Hughes,Jr.,L.C. ; Sanders,N.B.
出版情報:
Semiconductor Lasers II . pp.36-49, 1996. Bellingham, Wash.. SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
2886
3.
国際会議録
Hu,C. ; Mahajan,S. ; Dabkowski,F.P. ; Pendse,D.R. ; Barrett,R.J. ; Chin,A.K.
出版情報:
Semiconductor Lasers II . pp.59-66, 1996. Bellingham, Wash.. SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
2886
4.
国際会議録
Pendse,D.R. ; Chin,A.K. ; Dabkowski,F.P. ; Clausen,E.M.
出版情報:
Semiconductor Lasers III . pp.79-85, 1998. Bellingham, Wash.. SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
3547