1.

国際会議録

国際会議録
Rajavel, R. D. ; Jamba, D. M. ; Jensen, J. E. ; Wu, O. K. ; Cockrum, C. A. ; Wilson, J. A. ; Patten, E. A. ; Kosai, K. ; Rosbeck, J. ; Goetz, P. ; Venzor, G.
出版情報: Infrared applications of semiconductors - materials, processing, and devices : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A.  pp.257-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 450
2.

国際会議録

国際会議録
Rajavel, R. D. ; Wu, O. K. ; Jensen, J. E. ; Cockrum, C. A. ; Venzor, G. M. ; Patten, E. A. ; Goetz, P. M. ; Leonard, D. B. ; Johnson, S. M.
出版情報: Compound semiconductor electronics and photonics : symposium held April 8-10, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.335-,  1996.  Pittsburgh, Penn.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 421
3.

国際会議録

国際会議録
Smith, E. P. ; Pham, L. T. ; Venzor, G. M. ; Norton, E. ; Newton, M. ; Goetz, P. ; Randall, V. ; Pierce, G. ; Patten, E. A. ; Coussa, R. A. ; Kosai, K. ; Radford, W. A. ; Edwards, J. ; Johnson, S. M. ; Baur, S. T. ; Roth, J. A. ; Nosho, B. ; Jensen, J. E. ; Longshore, R. E.
出版情報: Materials for infrared detectors III : 7-8 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.1-13,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5209
4.

国際会議録

国際会議録
Ahlgren. W. L. ; James, J. B. ; Ruth, R. P. ; Patten, E. A. ; Staudenmann, J. L.
出版情報: Materials for infrared detectors and sources : symposium held December 1-5, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.405-418,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 90
5.

国際会議録

国際会議録
Radford, W. A. ; Patten, E. A. ; King, D. F. ; Pierce, G. K. ; Vodicka, J. ; Goetz, P. ; Venzor, G. ; Smith, E. P. ; Graham, R. ; Johnson, S. M. ; Roth, J. ; Nosho, B. ; Jensen, J.
出版情報: Infrared technology and applications XXXI : 28 March-1 April 2005, Orlando, Florida, USA.  pp.331-339,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5783