1.

国際会議録
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1. Properties of stratospheric aerosol estimated from HALOE data
Lee,K.-M. ; Park,J.H. ; Massie,S.T. ; Choi,W.
出版情報: Optical remote sensing of the atmosphere and clouds II : 9-12 October 2000, Sendai, Japan.  4150  pp.62-67,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4150
2.

国際会議録
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2. Electrostatically vacuum-sealed tunneling magnetic field sensors
Park,H.W. ; Ju,B.K. ; Lee,J. ; Park,J.H. ; Oh,M.H.
出版情報: Smart electronics and MEMS II : 13-15 December 2000, Melbourne, Australia.  4236  pp.36-43,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4236
3.

国際会議録
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3. Detectability and printability of programmed defect reticle for 256-Mb dram
Park,J.H. ; Cho,H.-K. ; Kim,Y.-H. ; Lee,K.-H. ; Yoon,H.-S.
出版情報: Photomask and X-Ray Mask Technology III.  pp.300-311,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2793
4.

国際会議録
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4. FIB repair of opaque defects for 64-Mb-DRAM-level binary masks
Lee,K.H. ; Cho,H.K. ; Park,J.H. ; Kim,Y.H. ; Yoon,H.S. ; Sohn,J.M.
出版情報: 16th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology and Management.  pp.442-453,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2884
5.

国際会議録
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5. Detectability and printability of programmed defects in the contact layer for 256-Mb-DRAM grade reticle
Kim,Y.H. ; Park,J.H. ; Lee,K.H. ; Cho,H.K. ; Yoon,H.S.
出版情報: 16th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology and Management.  pp.548-561,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2884
6.

国際会議録
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6. Full color laser projection display using Kr-Ar laser(white laser)beam-scanning technology
Kim,Y.H. ; Lee,H.W. ; Cha,S.N. ; Lee,J.H. ; Park,Y.J. ; Park,J.H. ; Hong,S.S. ; Hwang,Y.M.
出版情報: Optical scanning systems: design and applications : 30-31 July, 1997, San Diego, California.  pp.2-10,  1997.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3131
7.

国際会議録
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7. Parameters affecting megasonic power transmittance in the megasonic cleaning process
Kim,Y.H. ; Park,J.H. ; Lee,K.H. ; Choi,S.W. ; Yoon,H.S. ; Sohn,J.M.
出版情報: Photomask and X-Ray Mask Technology V.  pp.455-462,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3412
8.

国際会議録
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8. Design and fabrication of dichroic mirrors for color separation and recombination of the Kr-Ar laser (white laser)
Park,J.H. ; Park,Y.J. ; Hwang,Y.M.
出版情報: Optical thin films V : new developments : 30 July-1 August 1997, San Diego, California.  pp.288-299,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3133
9.

国際会議録
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9. Minimization of DUV multi-interference effect in 0.25-ｦﾌm device fabrication
Kim,J.H. ; Moon,S.C. ; Ko,B.S. ; Park,J.H. ; Lee,T.G. ; Shin,K.S. ; Kim,D.H.
出版情報: Optical Microlithography X.  pp.182-190,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3051
10.

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10. High-reflective multilayer coating by using the reflective control wavelength monitoring of layer thicknesses for second harmonic generation(SHG)laser
Park,J.H. ; Park,Y.J. ; Hwang,Y.M. ; Lee,S.H.
出版情報: Current developments in optical design and optical engineering VI : 5-7 August 1996, Denver, Colorado.  pp.343-358,  1996.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2863