1.

国際会議録
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1. Impact monitoring in smart composites using stabilization-controlled FBG sensor system
Bang, H.-J. ; Park, S.-W. ; Kim, D.-H. ; Hong, C.-S. ; Kim, C.-G.
出版情報: Smart structures and materials 2004 : smart sensor technology and measurement systems : 15-17 March 2004, San Diego, California, USA.  pp.279-286,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5384
2.

国際会議録
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2. The evaluation of aberration effects according to pattern shape and duly ratio
Lee, J.-E. ; Park, S.-W. ; Lee, C.-H. ; Oh, H.-W. ; Bae, S.-Y. ; Oh, H.-K.
出版情報: Optical microlithography XVIII : 1-4 March, 2005, San Jose, California, USA.  pp.1738-1749,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5754
3.

国際会議録
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3. Mechanical Properties of Ti3SiC2 Synthesized by Reaction Sintering
Hwang, S.-S. ; Park, S.-W. ; Kim, C.-M.
出版情報: Eco-materials processing & design : ISEPD-4, proceedings of the 4th International Symposium on Eco-Materials Processing & Design, Gyungpodae, Korea, February 4-6, 2003.  pp.297-301,  2003.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 439
4.

国際会議録
国際会議録
4. Simulation benchmarking for the whole resist process
Kim, S.-K. ; Lee, J.-E. ; Park, S.-W. ; Yoo, J.-Y. ; Oh, H.-
出版情報: Data analysis and modeling for process control : 26-27 February 2004, Santa Clara, California, USA.  pp.58-64,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5378
5.

国際会議録
国際会議録
5. Ethylene induced secretion of a ribosome inactivating protein from roots and hairy root cultures of Phytolacca americana
Park, S.-W. ; Linden, J.C. ; Vivanco, J.M.
出版情報: Biology and biotechnology of the plant hormone ethylene III.  pp.170-174,  2003.  Amsterdam.  IOS Press
シリーズ名: NATO science series. Series 1, Life and behavioural sciences
シリーズ巻号: 349
6.

国際会議録
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6. Haze detection and haze-induced process latitude variation for low-ki 193 nm lithography [6349-105]
Kim, S.-J. ; Park, J.-B. ; Kim, S.H. ; Kang, H.-Y. ; Kang, Y.-M. ; Park, S.-W. ; An, I. ; Oh, H.-K.
出版情報: Photomask Technology 2006.  pp.63492T-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6349
7.

国際会議録
国際会議録
7. Optimization of chromeless phase mask by comparing scattering bars with zebra patterns [6154-82]
Kong, H. Y. ; Lee, J. E. ; Kwak, E.-A ; Kim, E.-J. ; Park, S.-W. ; Kim, S.-H. ; Shin, D. S. ; Jeong, H. ; Oh, H.-K.
出版情報: Optical Microlithography XIX.  pp.615429-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6154
8.

国際会議録
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8. Adaptive Windowing Technique for Variable Block-size Motion Compensation
Park, S.-W. ; Kim, S.H. ; Kim, C.-S. ; Lee, S.-U.
出版情報: Visual Communications and Image Processing 2004.  pp.509-519,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5308
9.

国際会議録
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9. Aerial image characterization for the defects in the extreme ultraviolet mask
Yoo, M.-S. ; Park, S.-W. ; Kim, J.-H. ; Kwon, Y.-K. ; Oh, H.-K.
出版情報: Emerging Lithographic Technologies VIII.  pp.751-759,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5374
10.

国際会議録
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10. Simple 157-nm interference illumination system for pattern formation
Park, S.-W. ; Jeong, J. ; Choi, J. ; Oh, H. ; Kim, J. ; Park, I.
出版情報: Optical Microlithography XVII.  pp.1641-1647,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5377