1.

国際会議録
国際会議録
1. Relation Between Oxygen Precipitation and Minority Carrier Lifetime in Cz-Si Crystal
Lee, B.-Y. ; Park, B.-M. ; Hwang, D.-H. ; Kwon, O-J.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon.  pp.80-87,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-1
2.

国際会議録
国際会議録
2. Modeling for the Formation of Multiple-Type COPs in Cz-Si
Park, B.-M.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon.  pp.446-455,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-1