1.

国際会議録
国際会議録
1. Hydrogen Diffusion and Passivation of Shallow Impurities in Crystalline Silicon
Denteneer,P.J.H. ; Walle,C.G.Van de ; Bar-Yam,Y. ; Pantelides,S.T.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part3  pp.979-984,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
2.

国際会議録
国際会議録
2. Defects in Heterogeneous Solids-From Microphysics to Macrophysics
Pantelides,S.T. ; Moroudas,D. ; Laks,D.B.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.1-8,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
3.

国際会議録
国際会議録
3. DEFECTS IN AMORPHOUS SILICON
Pantelides,S.T.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.247-249,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
4.

国際会議録
国際会議録
4. Fluorine-Silicon Reactions and the Etching of Crystalline Silicon
Walle,C.G.Van de ; McFeely,F.R. ; Pantelides,S.T.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.335-339,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
5.

国際会議録
国際会議録
5. Vacancy Formation and Vacancy-Induced Structural Transformation in Si Grain Boundaries
Chisholm,M.F. ; Maiti,A. ; Pennycook,S.J. ; Pantelides,S.T.
出版情報: Intergranular and interphase boundaries in materials : iib98 : proceedings of the 9th International Conference on Intergranular and Interphase Boundaries in Materials (iib98), held in Prague, Czech Republic, July, 1998.  pp.161-164,  1999.  Zurich-Uetikon, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 294-296
6.

国際会議録
国際会議録
6. Entropy-Driven Metastable Defects in Silicon
Hamilton,B. ; Peaker,A.R. ; Pantelides,S.T.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.499-503,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41