1.

国際会議録
国際会議録
1. High performance SOI technology for sub-45nm gate length CMOS manufacturing Invited
Horstmann, M. ; Greenlaw, D. ; Huebler, P. ; Stephan, R. ; Feudel, Th. ; Wei, A. ; Frohberg, K. ; Hoentschel, J. ; Javorka, P. ; Burbach, G. ; Schwan, C. ; Peters, C. ; Lenski, M ; Press, P. ; Kammler, Th. ; Bierstedt, H. ; Otterbach, R. ; Neu, A. ; Wieczorek, K. ; Schaller, M. ; Salz, H. ; Hohage, J. ; Ruelke, H. ; Klais, J. ; Grasshoff, G. ; Ehrichs, E. ; Goad, S. ; Raab, M. ; Kepler, N.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XII : proceedings of the international symposium.  pp.57-68,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-03
2.

国際会議録
国際会議録
2. Piezoresistive pressure sensors in CVD diamond for high-temperature applications
Otterbach, R. ; Hilleringmann, U.
出版情報: Fifth International Symposium on Instrumentation and Control Technology : 24-27 October 2003, Beijing, China.  pp.381-384,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5253
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Development of Safety-Critical Software Using Automatic Code Generation.
Beine, M. ; Otterbach, R. ; Jungmann, M.
出版情報: 2004 SAE world congress : technical paper.  2004.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2004
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Model-Based Testing of embedded Automotive Software Using Mtest.
Lamberg, K. ; Beine, M. ; Eschmann, M. ; Otterbach, R. ; Conrad, M.
出版情報: 2004 SAE world congress : technical paper.  2004.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2004
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Effective Cooperation of System Level and ECU Centric Tools within the AUTOSAR Tool Chain.
Stichling, D. ; Niggemann, O. ; Otterbach, R. ; Hoffmeister, K.
出版情報: 2007 SAE world congress : technical paper.  2007.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2007
6.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
6. Creating Test Patterns for Model-Based Development of Automotive Software.
Wewetzer, C. ; Lamberg, K. ; Otterbach, R.
出版情報: 2006 SAE world congress : technical paper.  2006.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2006
7.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
7. Using Software Architecture Models in Automotive Development Processes.
Niggemann, O. ; Otterbach, R. ; Fleischer, D. ; Jogi, S.
出版情報: 2008 Commercial Vehicle Engineering Congress and Exhibition : SAE technical paper.  2008.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2008