1.

国際会議録

国際会議録
Behrendt,A. ; Nakamura,T. ; Sawai,Y. ; Onishi,M. ; Tsuda,T.
出版情報: Lidar remote sensing for industry and environment monitoring II : 30-31 July 2001, San Diego, USA.  pp.151-162,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4484
2.

国際会議録

国際会議録
Maekawa,Y. ; Onishi,M. ; Ando,A. ; Matsushima,S. ; Lai,F.S.
出版情報: Physics and simulation of optoelectronic devices VIII : 24-28 January 2000, San Jose, USA.  Part2  pp.935-943,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3944
3.

国際会議録

国際会議録
Onishi,M. ; Furukawa,F. ; Shimozaki,T.
出版情報: Grain growth in polycrystalline materials II : proceedings of the 2nd International Conference on Grain Growth in Polycrystalline Materials, held in Kitakyushu, Japan, 17-20 May, 1995.  pp.215-220,  1996.  Zurich-Uetikon, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 204-206
4.

国際会議録

国際会議録
Okino,T. ; Takaue,R. ; Onishi,M.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1631-1636,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201