1.

国際会議録
国際会議録
1. Impact of Ge Diffusion and Wafer Cross Hatching on Strained Si MOSFET Electrical Parameters
Driscoll, L. ; Olsen, S. ; Chattopadhyay, S. ; O'Neill, A. ; Kwa, K. ; Dobrosz, P. ; Bull, S.
出版情報: High-mobility group-IV materials and devices : symposium held April 13-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.225-230,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 809
2.

国際会議録
国際会議録
2. Effect of Slurry Dilution and Flow Rate on Coefficient of Friction and Removal Rate for ILD CMP Applications
Philipoasian, A. ; Olsen, S.
出版情報: Chemical Mechanical Planarization : proceedings of the International Symposium.  pp.237-245,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-1
3.

国際会議録
国際会議録
3. Electrical properties of natural Iia Diamonds using photo- and particle excitation
Pan, L. S. ; Han, S. ; Kania, D. R. ; Gan, K. K. ; Zhao, S. ; Kagan, H. ; Kass, R. ; Malchow, R. ; Morrow, F. ; Palmer, W. F. ; White, C. ; Kim, S. K. ; Sannes, F. ; Schnetzer, S. ; Stone, R. ; Thomson, G. B. ; Sugimoto, Y. ; Fry, A. ; Kanda, S. ; Olsen, S.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications : symposium held April 12-16, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.245-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 302
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Neck Biomechanical Responses with Active Head Restraints: Rear Barrier Tests with BioRID and Sled Tests with Hybrid III.
Viano, D.C. ; Olsen, S. ; Locke, G.S. ; Humer, M.
出版情報: 2002 SAE world congress : technical paper.  2002.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2002
5.

国際会議録
国際会議録
5. Error robustness evaluation of H.264/MPEG-4 AVC
Halbach, T. ; Olsen, S.
出版情報: Visual Communications and Image Processing 2004.  pp.617-627,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5308