1.

国際会議録

国際会議録
Nielsen,B.Bech ; Olajos,J. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part3  pp.1003-1008,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
2.

国際会議録

国際会議録
Grimmeiss,H.G. ; Kleverman,M. ; Olajos,J.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.341-354,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
3.

国際会議録

国際会議録
Kleverman,M. ; Olajos,J. ; Tidlund,P.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.479-484,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
4.

国際会議録

国際会議録
Olajos,J. ; Nielsen,B.Bech ; Kleverman,M. ; Omling,P. ; Emanuelsson,O. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.397-402,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41