1.

国際会議録
国際会議録
1. Test method for evaluating optical disk reliability (Invited Paper)
Irie, M. ; Okino, Y. ; Kubo, T.
出版情報: Advances in optical data storage technology : 8-10 November, 2004, Beijing, China.  pp.205-210,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5643
2.

国際会議録
国際会議録
2. Estimating a life expectancy of high-density recordable optical disks [5966-71]
Okino, Y. ; Irie, M. ; Kubo, T. ; Okuda, M.
出版情報: Seventh International Symposium on Optical Storage (ISOS 2005).  pp.59661Z-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5966
3.

国際会議録
国際会議録
3. Direct laser marking on ROM media for identification
Nakahara, S. ; Okino, Y. ; Takita, M. ; Hisada, S. ; Fujita, T.
出版情報: Photon Processing in Microelectronics and Photonics II.  pp.411-416,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4977