1.

国際会議録
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1. DIRECT OBSERVATION OF MEDIUM FIELD BREAKDOWN ORIGIN ON MOS CAPACITORS CONTAINING GROWN-IN CZ CRYSTAL DEFECTS
Tamatsuka, M. ; Radzimski, Z. ; Rozgonyi, G.A. ; Oka, S. ; Kato, M. ; Kitagawara, Y.
出版情報: Silicon materials science and technology : proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.1593-1609,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-1(2)
2.

国際会議録
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2. Solubilities of Poly(ethylene glycol)s and Styrene-Glycidyl Methacrylate-Methyl Methacrylate Copolymer in the Mixtures of Supercritical Carbon Dioxide and Cosolvent
Mishima, K. ; Tokuyasu, T. ; Oka, S. ; Ezawa, M. ; Johnston, K.
出版情報: AIChE ANNUAL MEETING - NOVEMBER 16-21, 1997 - LOS ANGELES, CA.  1997.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1997
3.

国際会議録
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3. Effect of Al or Poly-Si Gate Electrodes and Oxide Thickness on Gate Oxide Integrity and Leakage Site Observations
Tamatsuka, M. ; Kimura, M. ; Oka, S. ; Rozgonyi, G.A.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.345-356,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
4.

国際会議録
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4. Crystal Structure of (1-3)-α-D-Glucan
Ogawa, K. ; Okamura, K. ; Oka, S. ; Misaki, A.
出版情報: Fiber diffraction methods : based on a symposium sponsored by the Cellulose, Paper, and Textile Division at the 178th meeting of the American Chemical Society, Washington, D.C., September 10-14, 1979.  pp.353-,  1980.  Washington, D.C..  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 141
5.

国際会議録
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5. In vitro and in vivo effects of fatty acids and phenolic compounds on chemical mediator release from rat peritoneal exudate cells
Yamada, K. ; Matsuo, N. ; Shoji, K. ; Mori, M. ; Ueyama, T. ; Yunoki, S. ; Kaku, S. ; Oka, S. ; Nishiyama, K. ; Nonaka, M. ; Tachibana, H. ; Sugano, M.
出版情報: Fruits, vegetables, and teas.  pp.198-208,  1998.  Washington, DC.  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 701
6.

国際会議録
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6. Novel GOI Failure Analysis Using SEM/MOS/EBIC with SubNano Ampere Current Breakdown
Tamatsuka, M. ; Oka, S. ; Kirk, H.R. ; Rozgonyi, G.A.
出版情報: Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices.  pp.80-91,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-12
7.

国際会議録
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7. Analysis of wafer flatness for CD control in photolithography
Fujisawa, T. ; Asano, M. ; Sutani, T. ; Inoue, S. ; Yamada, H. ; Sugamoto, J. ; Okumura, K. ; Hagiwara, T. ; Oka, S.
出版情報: Optical Microlithography XV.  Part Two  pp.802-809,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4691