1.

国際会議録

国際会議録
Shimizu,T. ; Kobori,H. ; Ohyama,T. ; Otsuka,E.
出版情報: Shallow Impurities in Semiconductors : Proceedings of the Fifth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors "Physics and Control of Impurities", International Conference Center Kobe, Japan, 5 to 8 August, 1992.  pp.459-464,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 117-118
2.

国際会議録

国際会議録
Komeda,R. ; Nakata,H. ; Ohyama,T.
出版情報: Shallow Impurities in Semiconductors : Proceedings of the Fifth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors "Physics and Control of Impurities", International Conference Center Kobe, Japan, 5 to 8 August, 1992.  pp.477-482,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 117-118
3.

国際会議録

国際会議録
Nishitani,H. ; Nakata,H. ; Ohyama,T. ; Fujiwara,Y.
出版情報: Shallow Impurities in Semiconductors : Proceedings of the Fifth International Conference on Shallow Impurities in Semiconductors "Physics and Control of Impurities", International Conference Center Kobe, Japan, 5 to 8 August, 1992.  pp.513-518,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 117-118
4.

国際会議録

国際会議録
Hatoh,H. ; Hisatake,Y. ; Sato,M. ; Ohyama,T. ; Watanabe,R.
出版情報: Projection Displays II.  pp.234-242,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2650