1.

国際会議録
国際会議録
1. Defect Study on Si Implanted with B and BF2 Ions by Coincidence Doppler Broadening Measurements
Akahane, T. ; Fujinami, M. ; Ohnishi, K. ; Sawada, T.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-12 : Proceedings of the 12th International Conference on Positron Annihilation, August 6-12, 2000, München, Germany.  pp.469-471,  2001.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 363-365
2.

国際会議録
国際会議録
2. The Motion of Radio Meteor Reflection Point of Geminids
Ohnishi, K.
出版情報: Proceedings of the Meteoroids 2001 Conference, 6-10 August 2001, Swedish Institute of Space Physics, Kiruna, Sweden.  pp.429-434,  2001.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 495
3.

国際会議録
国際会議録
3. The Earth Rotation and Revolution Effect on the Daily and Annual Variation of Sporadic Meteor Echo
Ohnishi, K.
出版情報: Proceedings of the Meteoroids 2001 Conference, 6-10 August 2001, Swedish Institute of Space Physics, Kiruna, Sweden.  pp.435-442,  2001.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 495
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. In-Situ Unburned Gas Temperature Measurement in a Spark Ignition Engine Using Laser Interferometry.
Kawahara, N. ; Tomita, E. ; Ohnishi, K. ; Goto, K.
出版情報: 2005 SAE world congress : technical paper.  2005.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2005
5.

国際会議録
国際会議録
5. Development of position sensitive scintillation counter for balloon-borne hard x-ray telescope [6266-155]
Tamura, K. ; Kunieda, H. ; Ogasaka, Y. ; Furuzawa, A. ; Shibata, R. ; Nakamura, T. ; Ohnishi, K. ; Kanou, Y. ; Miyata, E. ; Tsunemi, H.
出版情報: Space Telescopes and Instrumentation II: Ultraviolet to Gamma Ray.  pp.62663R-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6266
6.

国際会議録
国際会議録
6. Metrology of LER: influence of line-edge roughness (LER) on transistor performance
Yamaguchi, A. ; Ichinose, K. ; Shimamoto, S. ; Fukuda, H. ; Tsuchiya, R. ; Ohnishi, K. ; Kawada, H. ; Iizumi, T.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.468-476,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375