1.

国際会議録
国際会議録
1. Characterization of Ta2O5 thin films with small current leakage for high density DRAMS
Kanda, N. ; Furukawa, R. ; Ishibashi, M. ; Kunitomo, M. ; Homma, T. ; Takahashi, M. ; Uemura, T. ; Kanai, M. ; Kubo, M. ; Ogata, K. ; Yoshida, T. ; Yamamoto, H. ; Ohji, Y.
出版情報: Structure and electronic properties of ultrathin dielectric films on silicon and related structures : symposium held November 29-December 1, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.129-,  2000.  Warrendale, PA.  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 592
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. An Approach for Compatibility Improvement Based on US Traffic Accident Data.
Kato, H. ; Ogata, K.
出版情報: 2003 SAE world congress : technical paper.  2003.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2003
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Investigation of Robustness Control for Practical Use of Gasoline HCCI Engine.
Ogata, K.
出版情報: 2013 SAE world congress : technical paper.  2013.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2013
4.

国際会議録
国際会議録
4. Barometric pressure compensation to control photoresist film thickness
Vishnu, V. ; Randall, M. ; Pillette, C.J. ; Katayama, K. ; Omura, K. ; Uemura, R. ; Tomita, H. ; Ando, R. ; Ogata, K. ; Maejima, H. ; DiDonato, A. ; Nicholson, J.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.958-966,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375