1.

国際会議録

国際会議録
Assaf, H. ; Ntsoenzok, E. ; Ruault, M-O. ; Ashok, S.
出版情報: Materials, technology and reliability of low-k dielectrics and copper interconnects : symposium held April 18-21, 2006, San Francisco, California, U.S.A..  pp.439-444,  2006.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 914
2.

国際会議録

国際会議録
Ntsoenzok, E. ; Delamare, R. ; Alquier, D. ; Liu, C.L. ; Ashok, S. ; Ruault, M.O.
出版情報: High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium.  pp.202-207,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-05
3.

国際会議録

国際会議録
Regula, G. ; El Bouayadi, R. ; Pichaud, B. ; Lancin, M. ; Ntsoenzok, E.
出版情報: High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium.  pp.208-217,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-05
4.

国際会議録

国際会議録
Leveque, P. ; Godey, S. ; Renault, P. O. ; Ntsoenzok, E. ; Barbot, J. F.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors, II : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.175-,  1998.  Warrendale, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 510
5.

国際会議録

国際会議録
Ntsoenzok, E. ; Desgardin, P. ; Blondiaux, G. ; Schmidt, D. C. ; Barbot, J. F. ; Blanchard, C. ; Renault, P. O.
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.395-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
6.

国際会議録

国際会議録
Delamare, R. ; Ntsoenzok, E. ; Sauvage, T. ; Shiryaev, A. ; Veen, A. van ; Dubois, Ch.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.269-274,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
7.

国際会議録

国際会議録
Liu, Changlong ; Delamare, R. ; Ntsoenzok, E. ; Regula, G. ; Pichaud, B. ; Veen, A. van
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.229-234,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
8.

国際会議録

国際会議録
Vengurlekar, A. ; Ashok, S. ; Liu, C.L. ; Ntsoenzok, E. ; Barthe, M.F. ; Desgardin, P. ; Ruault, M.O.
出版情報: Radiation effects and ion-beam processing of materials : symposium held December 1-5, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.183-188,  2004.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 792
9.

国際会議録

国際会議録
Bouayadi, R. El ; Regula, G. ; Pichaud, B. ; Lancin, M. ; Simon, J.J. ; Ntsoenzok, E.
出版情報: Si front-end processing -- physics and technology of dopant-defect interactions III : symposium held April 17-19, 2001, San Francisco, California, U.S.A..  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 669
10.

国際会議録

国際会議録
Ntsoenzok, E. ; Assaf, H. ; Ashok, S.
出版情報: Semiconductor defect engineering - materials, synthetic structures and devices : symposium held March 28-April 1, 2005, San Francisco, California, U.S.A..  pp.405-412,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 864