1.

国際会議録
国際会議録
1. The Influence of Film Thickness on Photoactivity for TiO2 Films Grown on Glass by CVD
Nolan, M. ; Sheel, D.W. ; Pemble, M.
出版情報: Chemical vapor deposition XVI and EUROCVD 14 : proceedings of the international symposium.  pp.417-423,  2003.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-8
2.

国際会議録
国際会議録
2. Characterization of assembled MEMS (Invited Paper)
Jandric, Z. ; Randall, J.N. ; Saini, R. ; Nolan, M. ; Skidmore, G.
出版情報: Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV.  pp.70-80,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5716