1.

国際会議録

国際会議録
Niu, D. ; Asheraft, R.W. ; Stemmer, S. ; Parsons, U.N.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.429-439,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2
2.

国際会議録

国際会議録
Du, S. ; Zhan, Y. ; Niu, D.
出版情報: Fourth International Conference on Virtual Reality and Its Applications in Industry : 23-25 October 2003, Tianjin, China.  pp.579-582,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5444
3.

国際会議録

国際会議録
Osburn, C.M. ; Han, S.K. ; Kim, I. ; Campbell, S.A. ; Garfunkel, E. ; Gustafson, T. ; Hauser, J. ; King, T.-J. ; Liu, Q. ; Ranade, P. ; Kingon, A. ; Kwong, D.-L. ; Lee, S.J. ; Lee, C.H. ; Lee, J. ; Onishi, K. ; Kang, C.S. ; Choi, R. ; Cho, H. ; Nich, R. ; Lucovsky, G. ; Hong, J.G. ; Ma, T.P. ; Zhu, W. ; Luo, Z. ; Maria, J.P. ; Wicaksana, D. ; Misra, V. ; Lee, J.J. ; Suh, Y.S. ; Parksons, G. ; Niu, D. ; Stemmer, S.
出版情報: ULSI Process Integration : proceedings of the International Symposium.  pp.375-390,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-6
4.

国際会議録

国際会議録
Klein, T. ; Niu, D. ; Parsons, G.
出版情報: Ultrathin SiO[2] and high-K materials for USLI gate dielectrics : symposium held April 5-8, 1999, in San Francisco, California, U.S.A..  pp.445-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 567
5.

国際会議録

国際会議録
Niu, D. ; Asheraft, R.W. ; Stemmer, S. ; Parsons, U.N.
出版情報: Semiconductor silicon 2002 : proceedings of the ninth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.429-439,  2002.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-2