1.

国際会議録

国際会議録
Job, R. ; Ulyashin, A.G. ; Huang, Y.L. ; Fahrner, W.R. ; Simoen, E. ; Claeys, C. ; Niedernostheide, F.-J. ; Schulze, H.-J. ; Tonelli, G.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.257-262,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
2.

国際会議録

国際会議録
Schuize, H.-J. ; Frohnmeyer, A. ; Niedernostheide, F.-J. ; Hille, F. ; Ttitto, P. ; Pavelka, T. ; Wachutka, U.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.414-424,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
3.

国際会議録

国際会議録
Niedernostheide, F.-J. ; Schulze, H.-J. ; Kellner-Werdehausen, U. ; Frohnmeyer, A. ; Wachutka, G.
出版情報: Crystalline defects and contamination: their impact and control in device manufacturing III : DECON 2001 : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 2001, Nuremberg, Germany.  pp.112-120,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-29