1.

国際会議録

国際会議録
Zhao,L. ; Xu,C. ; Gao,G. ; Zou,D. ; Chen,J. ; Shen,G. ; Ni,W.X. ; Hansson,G.V.
出版情報: Detectors, focal plane arrays, and imaging devices II : 18-19 September 1998, Beijing, China.  pp.112-119,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3553
2.

国際会議録

国際会議録
Buyanova,I.A. ; Chen,W.M. ; Pozina,G. ; Monemar,B. ; Ni,W.X. ; Hansson,G.V.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.139-144,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録

国際会議録
Buyanova,I.A. ; Chen,W.M. ; Henry,A. ; Ni,W.X. ; Hansson,G.V. ; Monemar,B.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.479-484,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
4.

国際会議録

国際会議録
Tang,Y.S. ; Hicks,S.E. ; Wilkinson,C.D.W. ; Torres,C.M.Sotomayor ; Ni,W.X. ; Birch,J. ; Joelsson,J.B. ; Hansson,G.V. ; Kvick,A. ; Wang,K.L.
出版情報: Silicon-Based Monolithic and Hybrid Optoelectronic Devices.  pp.170-177,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3007