1.

国際会議録

国際会議録
Kohler, T. ; Brainard, R. L. ; Naulleau, P. P. ; Steenwinckel, D. Van ; Lammers, J. H. ; Goldberg, K. A. ; Mackevich, J. F. ; Trefonas, P.
出版情報: Advances in resist technology and processing XXII : 28 February-2 March, 2005, San Jose, California, USA.  pp.140-148,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5753(1)
2.

国際会議録

国際会議録
Goldberg, K. A. ; Naulleau, P. P. ; Rekawa, S. B. ; Denham, P. E. ; Liddle, J. A. ; Gullikson, E. M. ; Jackson, K. H. ; Anderson, E. H. ; Taylor, J. S. ; Sommargren, G. E. ; Chapman, H. N. ; Phillion, D. W. ; Johnson, M. ; Barty, A. ; Soufli, R.
出版情報: Optics for EUV, x-ray, and gamma-ray astronomy II : 3-4 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.59000G-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5900
3.

国際会議録

国際会議録
Mercere, P. ; Bucourt, S. ; Cauchon, G. ; Douillet, D. ; Dovillaire, G. ; Goldberg, K. A. ; Idir, M. ; Levecq, X. ; Moreno, T. ; Naulleau, P. P. ; Rekawa, S. ; Zeitoun, O.
出版情報: Advances in metrology for x-ray and EUV optics : 2-3 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.592109-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5921
4.

国際会議録

国際会議録
Naulleau, P. P. ; Rammeloo, C. ; Cain, J. P. ; Dean, K. ; Denham, P. ; Goldberg, K. A. ; Hoef, B. ; La Fontaine, B. ; Pawloski, A. R. ; Larson, C. ; Wallraff, G
出版情報: Emerging Lithographic Technologies X.  pp.61510Y-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6151
5.

国際会議録

国際会議録
Zeitoun, P. ; Balcou, Ph. ; Bucourt, S. ; Benredjem, D. ; Delmotte, F. ; Dovillaire, G. ; Douillet, D. ; Dunn, J. ; Faivre, G. ; Fajardo, M. ; Goldberg, K. A. ; Idir, M. ; Hubert, S. ; Hunter, J. R. ; Jacquemot, S. ; Kazamias, S. ; Ie Pape, S. ; Levecq, X. ; Lewis, C. L. S. ; Marmoret, R. ; Mercere, P. ; Morlens, A. S. ; Naulleau, P. P. ; Remond, C. ; Rocca, J. J. G. ; Sebban, S. ; Smith, R. F. ; Ravet, M. -F. ; Troussel, P. ; Valentin, C. ; Vanbostal, L.
出版情報: Soft X-Ray Lasers and Applications V.  pp.194-204,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5197