1.

国際会議録
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1. Resolution and sensitivity improvements for VOx microbolometer FPAs
Murphy, D.F. ; Kennedy, A. ; Ray, M. ; Wyles, R. ; Wyles, J. ; Asbrock, J.F. ; Hewitt, C. ; Lue, D.V. ; Sessler, T. ; Anderson, J.S. ; Bradley, D. ; Chin, R. ; Gonzales, H. ; Pere, C.L. ; Kostrzewa, T.
出版情報: Infrared technology and applications XXIX : 21-25 April 2003, Orlando, Florida, USA.  pp.402-413,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5074
2.

国際会議録
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2. Advances in uncooled systems applications
Anderson, J.S. ; Bradley, D. ; Chen, C.W. ; Chin, R. ; Gonzalez, H. ; Hegg, R.G. ; Kostrzewa, K. ; Pere, C.L. ; Ton, S. ; Kennedy, A. ; Murphy, D.F. ; Ray, M. ; Wyles, R. ; Miller, J.E. ; Newsome, G.W.
出版情報: Infrared technology and applications XXIX : 21-25 April 2003, Orlando, Florida, USA.  pp.557-563,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5074
3.

国際会議録
国際会議録
3. Photonic crystal fiber devices(Invited Paper)
Birks, T.A. ; Kakarantzas, G. ; Russell, P.S. ; Murphy, D.F.
出版情報: Fiber-based component fabrication, testing and connectorization : 29-30 October 2002, Brugge, Belgium.  pp.142-151,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4943
4.

国際会議録
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4. Low-cost microsensors program
Anderson, J.S. ; Bradley, D. ; Chen, C.W. ; Chin, R. ; Hegg, R.G. ; Kennedy, A. ; Murphy, D.F. ; Ray, M. ; Wyles, R. ; Brown, J.C. ; Newsome, G.W.
出版情報: Infrared and passive millimeter-wave imaging systems : design, analysis, modeling, and testing : 3-5 April 2002, Orland, USA.  pp.107-112,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4719
5.

国際会議録
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5. High-sensitivity 25-μm microbolometer FPAs
Murphy, D.F. ; Ray, M. ; Wyles, R. ; Asbrock, J.F. ; Lum, N.A. ; Wyles,J. ; Hewitt, C. ; Kennedy, A. ; Van Lue, D. ; Anderson, J.S. ; Bradley, D. ; Chin, R. ; Kostrzewa, T.
出版情報: Infrared Detectors and Focal Plane Arrays VII : 2-3 April 2002, Orlando, USA.  pp.99-110,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4721
6.

国際会議録
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6. High-sensitivity 25-μm microbolometer FPAs (Invited Paper)
Murphy, D.F. ; Ray, M. ; Wyles, R. ; Asbrock, J.F. ; Lum, N.A, ; Wyles, J. ; Hewitt, C. ; Kennedy, A. ; Van Lue, D. ; Anderson, J.S. ; Bradley, D. ; Chin, R. ; Kostrzewa, T.
出版情報: Infrared Technology and Applications XXVIII.  Part One  pp.208-219,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4820
7.

国際会議録
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7. Performance improvements for VOx microbolometer FPAs
Murphy, D.F. ; Ray, M. ; Wyles, J. ; Asbrock, J.F. ; Hewitt, C. ; Wyles, R. ; Gordon, E. ; Sessler, T. ; Kennedy, A. ; Baur, S.T. ; Van Lue, D. ; Anderson, S. ; Chin, R. ; Gonzales, H. ; Le Pere, C. ; Ton, S. ; Kostrzewa, T.
出版情報: Infrared Technology and Applications XXX.  pp.531-540,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5406