1.

国際会議録
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1. Charge diffusion and loss as a function of absorption depth in x-ray CCD
Kohno,M. ; Imanishi,K. ; Bamba,A. ; Tsujimoto,M. ; Murakami,H. ; Tsuru,T.G. ; Koyama,K.
出版情報: X-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy XII : 31 July and 2 August 2001 San Diego, USA.  pp.149-157,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4497
2.

国際会議録
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2. Positron Annihilation in Polyvinyliden Fluoride
Murakami,H. ; Tamaki,K. ; Hirose,N. ; Fujirnaki,Y.
出版情報: Positron annihilation : Proceedings of the 9th International Conference on Positron Annihilation, August 26-31, 1991, Szombathely, Hungary.  Pt.3  pp.1667-1670,  1992.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 105-110
3.

国際会議録
国際会議録
3. Japanese infrared survey mission IRIS (ASTRO-F)
Murakami,H.
出版情報: Space telescopes and instruments V : 25-28 March 1998, Kona, Hawaii.  Part 1  pp.471-477,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3356
4.

国際会議録
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4. HII/L2 mission: future Japanese infrared astronomical mission
Nakagawa,T. ; Hayashi,M. ; Kawada,M. ; Matsuhara,H. ; Matsumoto,T. ; Murakami,H. ; Okuda,H. ; Onaka,T. ; Shibai,H. ; Ueno,M.
出版情報: Space telescopes and instruments V : 25-28 March 1998, Kona, Hawaii.  Part 1  pp.462-470,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3356
5.

国際会議録
国際会議録
5. IRC(infrared camera)onboard IRIS(ASTRO-F)
Ueno,M. ; Onaka,T. ; Ootsubo,T. ; Negishi,T. ; Takeyama,N. ; Wada,T. ; Watarai,H. ; Matsuhara,H. ; Murakami,H. ; Matsumoto,T.
出版情報: Infrared technology and applications XXV : 5-9 April 1999, Orlando, Florida.  pp.612-625,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3698
6.

国際会議録
国際会議録
6. GaAs photoconductors for submillimeter astronomy:liquid phase epitaxial growth of GaAs layers
Abe,O. ; Murakami,H. ; Okamura,Y. ; Wakaki,M. ; Yakawa,T. ; Koyama,M. ; Ogawa,T.
出版情報: Infrared technology and applications XXV : 5-9 April 1999, Orlando, Florida.  pp.603-611,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3698
7.

国際会議録
国際会議録
7. Tunneling observation of phonon contribution to the Cooper pairing in high-Tc superconductors
Aoki,R. ; Murakami,H. ; Shirai,M. ; Svistunov,V.M. ; D'yachenko,A.I. ; Afanassyev,D.N.
出版情報: Spectroscopic Studies of Superconductors Part B : Tunneling,Photoelectron,and Other Spectra : 29 January - 1 February 1996, San Jose, California.  PartB  pp.374-383,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2696
8.

国際会議録
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8. LT-STM/STS observation of definite superconducting gap states on the multistage crystal surface of Bi2Sr2CaCu2O8+x
Murakami,H. ; Aoki,R.
出版情報: Spectroscopic Studies of Superconductors Part B : Tunneling,Photoelectron,and Other Spectra : 29 January - 1 February 1996, San Jose, California.  PartB  pp.384-393,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2696
9.

国際会議録
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9. Infrared camera(IRC)on board ASTRO-F(IRIS):design overview and current status
Watarai,H. ; Fujita,S. ; Ishihara,D. ; Kim,W. ; Maeda,I. ; Matsuhara,H. ; Matsumoto,T. ; Murakami,H. ; Negishi,T. ; Onaka,T. ; Ootsubo,T. ; Takeyama,N. ; Uemizu,K. ; Ueno,M.
出版情報: UV, optical, and IR space telescopes and instruments : 29-31 March 2000, Munich, Germany.  pp.59-68,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4013
10.

国際会議録
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10. Single-edge Precracked beam test and electric fracture mechanics analysis for piezoelectric ceramics
Shindo,Y. ; Horiguchi,K. ; Murakami,H. ; Narita,F.
出版情報: Smart structures and devices : 13-15 December 2000, Melbourne, Australia.  pp.311-320,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4235