1.

国際会議録
国際会議録
1. A New Characterisation Process Used to Qualify SOI Films
Moriceau, H ; Aspar, B ; Bruel, M ; Cartier, A M ; Morales, C ; Soubie, A ; Barge, T ; Bressot, S ; Maleville, C ; Auberton, A I
出版情報: Proceedings of the Ninth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.173-178,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-3
2.

国際会議録
国際会議録
2. Physical phenomena involved in the Smart Cut process
Moleville, C ; Aspar, B ; Powneyrol, T ; Moriceau, H ; Bract, M ; Auberton-Herve, A J ; Barge, T ; Metral, F
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.34-46,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-3
3.

国際会議録
国際会議録
3. Characterisation of SOI substrates: application to recent SIMOX and UNIBOND wafers
Aspar, B ; Moriceau, H ; Auberton-Herve, A J
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.99-111,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-3