1.

国際会議録
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1. Improvement of thickness uniformity of quartz crystal wafer by numerically controlled plasma CVM [5869-17]
Shibahara, M. ; Yamamura, K. ; Sano, Y. ; Sugiyama, T. ; Endo, K. ; Mori, Y.
出版情報: Optical manufacturing and testing VI : 31 July-1 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58690I-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5869
2.

国際会議録
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2. Evaluation and discrimination method of mura in liquid crystal displays by just-noticeable-difference observation
Mori, Y. ; Yoshitake, R. ; Tamura, T. ; Yoshizawa, T. ; Tsuji, S.
出版情報: Optomechatronic systems III : 12-14 November 2002, Stuttgart, Germany.  pp.715-722,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4902
3.

国際会議録
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3. Development of a figure correction method having spatial resolution close to 0.1 mm
Mori, Y. ; Yamauchi, K. ; Yamamura, K. ; Mimura, H. ; Sano, Y. ; Saito, A. ; Endo, K. ; Souvorov, A. ; Yabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T.
出版情報: Advances in mirror technology for X-ray, EUV lithography, laser, and other applications : 7-8 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.105-111,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5193
4.

国際会議録
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4. STUDY OF TRANSITION METAL CONTAMINATION CAUSED BY SC-l TREATMENT USING TRXRF
Mori, Y. ; Uemura, K. ; Shimanoe, K. ; Sakon, T.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.248-260,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10
5.

国際会議録
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5. Development of a high-resolution surveillance camera with 520 TV lines
Okada, S. ; Mori, Y. ; Tominaga, R. ; Mise, T. ; Azuma, E. ; Iinuma, T.
出版情報: Sensors and camera systems for scientific, industrial, and digital photography applications III : 21-23 January, 2002, San Jose, [California], USA.  pp.63-71,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4669
6.

国際会議録
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6. Fabrication technology of hard x-ray aspherical mirror optics and application to nanospectroscopy
Mori, Y. ; Yamauchi, K. ; Yamamura, K. ; Mimura, H. ; Sano, Y. ; Saito, A. ; Endo, K. ; Souvorov, A. ; Yabashi, M. ; Tamasaku, K. ; Ishikawa, T. ; Shimura, M. ; Ishizaka, Y.
出版情報: Advances in mirror technology for X-ray, EUV lithography, laser, and other applications : 7-8 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.11-17,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5193
7.

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7. CHARACTERIZATION OF SURFACE CONDUCTIVE LAYERS OF DIAMOND FILMS
Mori, Y. ; Sivazlian, F. ; Yagi, H. ; Show, Y. ; Deguchi, M. ; Yagyu, H. ; Eimori, N. ; Okada, T. ; Hatta, A. ; Nishimura, K. ; Kitabatake, M. ; Ito, T. ; Hirao, T. ; Izumi, T. ; Sasaki, T. ; Hiraki, A.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Diamond Materials.  pp.706-712,  1993.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1993-17
8.

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8. Hard x-ray nano-focusing of 40nm level using K-B mirror optics for nanoscopy/spectroscopy [5918-05]
Matsuyama, S. ; Mimura, H. ; Yumoto, H. ; Hara, H. ; Yamamura, K. ; Sano, Y. ; Endo, K. ; Mori, Y. ; Nishino, Y. ; Tamasaku, K. ; Yabashi, M. ; Tshikawa, T. ; Yamauchi, K.
出版情報: Laser-generated, synchrotron, and other laboratory X-ray and EUV sources, optics, and applications II : 2-4 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.591804-591804,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5918
9.

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9. A Study of Rhombohedral Phase in Y2O3-Partially Stabilized Zirconia
Kitano, Y. ; Mori, Y. ; Ishitani, A. ; Masaki, T.
出版情報: Advanced structural ceramics : symposium held December 1-3, 1986, Boston, Massachusetts U.S.A..  pp.17-24,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 78
10.

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10. A new designed ultra-high precision profiler [5921-07]
Higashi, Y. ; Takaie, Y. ; Endo, K. ; Kume, T. ; Enami, K. ; Yamauchi, K. ; Yamamura, K. ; Sano, H. ; Ueno, K. ; Mori, Y.
出版情報: Advances in metrology for x-ray and EUV optics : 2-3 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.592107-592107,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5921