1.

国際会議録
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1. CMOS-compatible wells for integrated high-speed screening array
Gray, B.L. ; Moerman, R. ; van den Doel, L.R. ; Dietrich, H.R.C. ; Iordanov, V.P. ; Pham, N.P. ; Sarro, P.M. ; Bossche, A. ; Vellekoop, M.J.
出版情報: Biomedical nanotechnology architectures and applications : 20-24 January 2002, San Jose, USA.  pp.103-108,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4626
2.

国際会議録
国際会議録
2. Monitoring enzyme-catalyzed reactions in micromachined nanoliter wells using a conventional microscope-based microarray reader
van den Doel, L.R. ; Moerman, R. ; van Dedem, G.W.K. ; Young, I.T. ; van Vliet, L.J.
出版情報: Biomedical nanotechnology architectures and applications : 20-24 January 2002, San Jose, USA.  pp.366-377,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4626
3.

国際会議録
国際会議録
3. Growth and transport properties of tunneling barriers in HTS devices
Gerritsma, G.J. ; Verhoeven, M.A.J. ; Moerman, R. ; Blank, D.H.A. ; Rogalla, H.
出版情報: Epitaxial oxide thin films II : symposium held November 26-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.287-296,  1996.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 401
4.

国際会議録
国際会議録
4. Intra-wafer CDU characterization to determine process and focus contributions based on scatterometry metrology
Dusa, M. ; Moerman, R. ; Singh, B. ; Friedberg, P. ; Hoobler, R. ; Zavecs, T.
出版情報: Data analysis and modeling for process control : 26-27 February 2004, Santa Clara, California, USA.  pp.93-104,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5378
5.

国際会議録
国際会議録
5. A dive into clear water: immersion defect capabilities [6154-28]
Streefkerk, B. ; Nulkens, J. ; Moerman, R. ; Stacenga, M. ; Van der Hoeven, J. ; Grouwstra, C. ; Bruis, R. ; Leenders, M. ; Wang. S. ; Van Domelen, Y. ; Boeremaa, M. ; Jansen, H ; Cummings, K ; Riepen, M ; Boom, H ; Suddendorf, M ; Huisman, P
出版情報: Optical Microlithography XIX.  pp.61540S-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6154
6.

国際会議録
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6. System qualification and optimization for imaging performance on the 0.80-NA 248-nm step-and-scan systems
van Ingen Schenau, K. ; Bakker, H. ; Zellenrath, M. ; Moerman, R. ; Linders, J. ; Rohe, T. ; Emer, W.
出版情報: Optical Microlithography XV.  Part One  pp.637-651,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4691
7.

国際会議録
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7. Monitoring enzymatic reactions with in situ sensors
Young, I.T. ; Iordanov, V. ; Kroon, A. ; Dietrich, H.R.C. ; Moerman, R. ; Doel, L.R. ; Dedem, G.W.K. ; Bossche, A. ; Gray, B.L. ; Sarro, L. ; Verbeek, P.W. ; Vliet, L.J.
出版情報: Microarrays and Combinatorial Technologies for Biomedical Applications: Design, Fabrication, and Analysis.  pp.76-82,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4966