1.

国際会議録

国際会議録
Lu, Y.F. ; Takai, M. ; Sanda, H. ; Chayahara, A. ; Satou, M. ; Minamisono, T. ; Namba, S.
出版情報: In-situ patterning : selective area deposition and etching : symposium held November 29-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.301-306,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 158
2.

国際会議録

国際会議録
Takai, M. ; Sato, Y. ; Murakami, K. ; Gamo, K. ; Minamisono, T. ; Namba, S.
出版情報: Laser and electron-beam interactions with solids : proceedings of the Materials Research Society Annual Meeting, November 1981, Boston Park Plaza Hotel, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.91-96,  1982.  New York.  North Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposia proceedings
シリーズ巻号: 4
3.

国際会議録

国際会議録
Miyata, E. ; Kouno, H. ; Kamazuka, T. ; Fukuda, M. ; Mihara, M. ; Matsuta, K. ; Tanaka, K. ; Tsunemi, H. ; Minamisono, T. ; Tomida, H. ; Miyaguchi, K.
出版情報: X-ray and gamma-ray detectors and applications IV : 7-9 July Seattle, Washington, USA.  pp.326-337,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4784
4.

国際会議録

国際会議録
Hiraga, J. ; Tsunemi, H. ; Miyata, E. ; Kouno, H. ; Miyaguchi, K. ; Fukuda, M. ; Mihara, M. ; Matsuta, K. ; Tanaka, K. ; Minamisono, T.
出版情報: X-Ray and Gamma-Ray Telescopes and Instruments for Astronomy.  PART TWO  pp.975-983,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4851
5.

国際会議録

国際会議録
Miyata, E. ; Kouno, H. ; Kamazuka, T. ; Fukuda, M. ; Mihara, M. ; Matsuta, K. ; Tanaka, K. ; Tsunemi, H. ; Minamisono, T. ; Tomida, H. ; Miyaguchi, K.
出版情報: X-Ray and Gamma-Ray Telescopes and Instruments for Astronomy.  PART TWO  pp.1080-1091,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4851