1.

国際会議録
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1. IC COMPATIBLE PROCESSING OF Si:Er FOR OPTOELECTRONICS
Ren, F.Y.G. ; Michel, J. ; Sun-Paduano, Q. ; Zheng, B. ; Kitagawa, H. ; Jacobson, D.C. ; Poate, J.M. ; Kimerling, L.C.
出版情報: Silicon-based optoelectronic materials : Symposium held April 12-14, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.415-424,  1993.  Pittsburgh, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 298
2.

国際会議録
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2. Melt expulsion by a coaxial gas jet in trepanning of CMSX-4 with microsecond Nd:YAG laser radiation
Willach, J. ; Kreutz, E.W. ; Michel, J. ; Niessen, M. ; Schulz, W. ; Poprawe, R.
出版情報: Fourth International Symposium on Laser Precision Microfabrication : 21-24 June, 2003, Munich, Germany.  pp.435-440,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5063
3.

国際会議録
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3. IN-LINE MONITORING OF WET CLEANING PROCESSES USING RADIO FREQUENCY PHOTOCONDUCTANCE DECAY
Norga, G.J. ; Black, K.A. ; Black, M.R. ; Michel, J. ; Kimerling, L.C.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.350-357,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-20
4.

国際会議録
国際会議録
4. COLUMNAR STRUCTURE GROWTH BY SILICON MOLECULAR BEAM EPITAXY
Xie, Y.H. ; Gilmer, G.H. ; Fitzgerald, E.A. ; Michel, J.
出版情報: Silicon molecular beam epitaxy : symposium held April 29-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.41-48,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 220
5.

国際会議録
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5. THE STRUCTURE OF THERMAL DONORS (NL8) IN SILICON: A MODEL DERIVED FROM 17O AND 29Si ENDOR EXPERIMENTS
Michel, J. ; Niklas, J. R. ; Spaeth, J. -M.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.185-188,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
6.

国際会議録
国際会議録
6. THE ROLE OF OXYGEN IN p-TYPE InP
Michel, J. ; Jeong, J. ; Lee, K.M. ; Kimergling, L.C.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.151-156,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
7.

国際会議録
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7. Defect Engineering for Silicon Microphotonics
Agarwal, A. ; Foresi, J.S. ; Giovane, L.M. ; Liao, L. ; Michel, J. ; Wada, K. ; Kimerling, L.C.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Defects in Silicon.  pp.215-224,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-1
8.

国際会議録
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8. MONITORING AND OPTIMIZATION OF SILICON SURFACE QUALITY
M'saad, H. ; Michel, J. ; Reddy, A. ; Kimerling, L.C.
出版情報: Proceedings of the Third International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing.  pp.505-513,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-7
9.

国際会議録
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9. STRAIN-FREE GexSi1-x LAYERS WITH LOW THREADING DISLOCATION DENSITIES GROWN ON Si SUBSTRATES
Fitzgerald, E.A. ; Xie, Y.H. ; Green, M.L. ; Brasen, D. ; Kortan, A.R. ; Mii, Y.J. ; Michel, J. ; Weir, B.E. ; Feldman, L.C. ; Kuo, J.M.
出版情報: Silicon molecular beam epitaxy : symposium held April 29-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.211-216,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 220
10.

国際会議録
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10. FILTRES128: front-end readout electronic development for silicon microstrip detectors
Anstotz, F. ; Hu, Y. ; Michel, J. ; Sohler, J.L. ; Lachartre, D.
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy IX : 22-24 July 1998 San Diego, California.  pp.339-346,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3445