1.

国際会議録
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1. Real-time phase resolved optical coherence tomography and optical Doppler tomography using optical Hilbert Transformation
Zhao, Y. ; Ding, Z. ; Ren, H. ; Miao, J. ; Jung, W.G. ; Nelson, J.S. ; Chen, Z.
出版情報: Coherence domain optical methods in biomedical science and clinical applications VI : 21-23 January 2002, San Jose, USA.  pp.115-119,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4619
2.

国際会議録
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2. The Fabrication of Complex Membrane Structures in n-GaAs for Micromechanical Applications
Miao, J. ; Weiss, B. L. ; Hartnagel, H. L. ; Wilson, R. J. ; Ruck, D.
出版情報: Ion-solid interactions for materials modification and processing : symposium held November 27-December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.853-,  1996.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 396
3.

国際会議録
国際会議録
3. Wafer-level packaging of pressure sensor using SU8 photoresist
Iliescu, C. I. ; Tay, F. E. H. ; Miao, J. ; Avram, M.
出版情報: Smart structures, devices, and systems II : 13-15 December 2004, Sydney, Australia.  pp.297-305,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5649
4.

国際会議録
国際会議録
4. Measurement system of oil tank liquid level based on differential capacitance sensing
Miao, J.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.558-574,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
5.

国際会議録
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5. Hybrid analysis of micromachined silicon thin film based on digital microscopic holography
Xu, L. ; Peng, X. ; Miao, J. ; Asundi, A. K.
出版情報: Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology.  pp.236-243,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5458
6.

国際会議録
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6. Development and validation of digital microholo interferometric system for micromechanical testing
Xu, L. ; Peng, X. ; Miao, J. ; Asundi, A.K.
出版情報: Interferometry XI: Applications.  pp.11-20,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4778
7.

国際会議録
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7. Automated full-field interferometric characterization of micromachined silicon membrane
Xu, L. ; Peng, X. ; Miao, J. ; Asundi, A.K.
出版情報: Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III.  pp.284-291,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5343