1.

国際会議録

国際会議録
Wagner, R.F. ; Beiden, S.V. ; Campbell, G. ; Metz, C.E. ; Sacks, W.M.
出版情報: Medical imaging 2003 : Image perception, observer performance, and technology assessment : 18-20 February 2003, San Diego, California, USA.  pp.213-224,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5034
2.

国際会議録

国際会議録
Edwards, D.C. ; Lan, L. ; Metz, C.E. ; Giger, M.L. ; Nishikawa, R.M.
出版情報: Medical imaging 2003 : Image perception, observer performance, and technology assessment : 18-20 February 2003, San Diego, California, USA.  pp.474-482,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5034
3.

国際会議録

国際会議録
Edwards, D.C. ; Metz, C.E. ; Nishikawa, R.M.
出版情報: Medical Imaging 2002: Image Perception, Observer Performance, and Technology Assessment.  pp.1-12,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4686
4.

国際会議録

国際会議録
Drukker, K. ; Edwards, D.C. ; Giger, M.L. ; Nishikawa, R.M. ; Metz, C.E.
出版情報: Medical Imaging 2004: Image Processing.  pp.1034-1041,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5370
5.

国際会議録

国際会議録
Edwards, D.C. ; Metz, C.E. ; Nishikawa, R.M.
出版情報: Medical Imaging 2004: Image Perception, Observer Performance, and Technology Assessment.  pp.128-137,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5372
6.

国際会議録

国際会議録
Reiser, I. ; Metz, C.E. ; Nishikawa, R.M.
出版情報: Medical Imaging 2004: Image Perception, Observer Performance, and Technology Assessment.  pp.166-172,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5372