1.

国際会議録

国際会議録
Mercere, P. ; Bucourt, S. ; Cauchon, G. ; Douillet, D. ; Dovillaire, G. ; Goldberg, K. A. ; Idir, M. ; Levecq, X. ; Moreno, T. ; Naulleau, P. P. ; Rekawa, S. ; Zeitoun, O.
出版情報: Advances in metrology for x-ray and EUV optics : 2-3 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.592109-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5921
2.

国際会議録

国際会議録
Zeitoun, P. ; Balcou, Ph. ; Bucourt, S. ; Benredjem, D. ; Delmotte, F. ; Dovillaire, G. ; Douillet, D. ; Dunn, J. ; Faivre, G. ; Fajardo, M. ; Goldberg, K. A. ; Idir, M. ; Hubert, S. ; Hunter, J. R. ; Jacquemot, S. ; Kazamias, S. ; Ie Pape, S. ; Levecq, X. ; Lewis, C. L. S. ; Marmoret, R. ; Mercere, P. ; Morlens, A. S. ; Naulleau, P. P. ; Remond, C. ; Rocca, J. J. G. ; Sebban, S. ; Smith, R. F. ; Ravet, M. -F. ; Troussel, P. ; Valentin, C. ; Vanbostal, L.
出版情報: Soft X-Ray Lasers and Applications V.  pp.194-204,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5197