1.

国際会議録
国際会議録
1. Analysis of structural and electrical characteristics of low dose SIMOX
Anc, M.J. ; Allen, L.P. ; McMarr, P.J. ; Mrstik, B.J. ; Hughes, H.L. ; Brothers, C.P.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.143-148,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
2.

国際会議録
国際会議録
2. SURFACE ROUGHNESS CHARACTERIZATION OF Al FILMS BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY
Blanco, J.R. ; Vedam, K. ; McMarr, P.J. ; Bennett, J.M.
出版情報: Thin films : interfaces and phenomena : symposium held December 2-6, 1985, Boston, Massachusetts, USA.  pp.669-674,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 54