1.

国際会議録

国際会議録
Lopez, C. ; Garcia, D. F. ; Usamentiaga, R. ; Gonzalez, D. ; Gonzalez, J. A. ; Karnowski, T. P. ; Kercher, A. K. ; Hunn, J. D. ; Maxey, L. C.
出版情報: Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII.  pp.228-238,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5679
2.

国際会議録

国際会議録
Karnowski, T. P. ; Kercher, A. K. ; Hunn, J. D. ; Maxey, L. C.
出版情報: Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII.  pp.62-73,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5679