1.

国際会議録
国際会議録
1. Defect Distribution Across 6-Inch CZ-Silicon Wafers
Puff,W. ; Mascher,P. ; Hahn,S. ; Cho,K.H. ; Lee,B.Y.
出版情報: Positron annihilation : Proceedings of the 9th International Conference on Positron Annihilation, August 26-31, 1991, Szombathely, Hungary.  Pt.2  pp.1185-1188,  1992.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 105-110
2.

国際会議録
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2. Gas and heat treatment effects on the defect structure of a-SiC:H films
Friessnegg,T. ; Boudreau,M. ; Mascher,P. ; Simpson,P.J. ; Puff,W.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.709-714,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録
国際会議録
3. Defect distribution in large CZ-silicon wafers investigated by positron annihilation spectroscopy
Mascher,P. ; Puff,W. ; Hahn,S. ; Cho,K.H. ; Lee,B.Y.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.413-418,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
4.

国際会議録
国際会議録
4. Deformation-Induced Defects in GaSb
Mahony,J. ; Tessaro,G. ; Mascher,P. ; Siethoff,H. ; Brion,H.G.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1449-1454,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
5.

国際会議録
国際会議録
5. Shallow Positron Traps in Gallium Arsenide
Dannefaer,S. ; Mascher,P. ; Kerr,D.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part2  pp.893-898,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
6.

国際会議録
国際会議録
6. Vacancy-type defects in proton-irradiated SiC
Puff,W. ; Mascher,P. ; Balogh,A.G. ; Baumam,H.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.733-738,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
7.

国際会議録
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7. Vacancy-type defects in eloctron and proten irradiated II-VI compounds
Brunner,S. ; Puff,W. ; Mascher,P. ; Balogh,A.G. ; Baumann,H.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part3  pp.1419-1424,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
8.

国際会議録
国際会議録
8. Vacancy Type Defects in Proton Irradiated SiC
Puff,W. ; Balogh,A.G. ; Mascher,P. ; Baumann,H.
出版情報: Materials science applications of ion beam techniques : proceedings of the International Symposium on Materials Science Applications of Ion Beam Techniques, incoeporating the 1st German-Australian Workshop on Ion Beam Analysis, Seeheim, Germany, September 9-12 1996.  pp.285-288,  1997.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 248-249
9.

国際会議録
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9. Effects of Boron Doping on the Annealing Characteristics of Cz-Silicon
Puff,W. ; Mascher,P. ; Kerr,D. ; Dannefaer,S.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.225-230,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
10.

国際会議録
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10. The Influence of the Zinc Concentration on the Defect Characteristics of InP
Mahony,J. ; Mascher,P.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1661-1666,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201