1.

国際会議録
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1. Potential of Improved Gain in Operational Transconductance Amplifier Using 0.5 um Graded-Channel SOI NMOSFET for Applications in the Gigahertz Range
Gimenez, S. P. ; Pavanello, M. A. ; Martino, J. A. ; Flandre, D.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.502-511,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08
2.

国際会議録
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2. Implementation of Tunable Resistors Using Graded-Channel SOI MOSFETs Operating in Cryogenic Environments
Pavanello, M. A. ; Cerdeira, A. ; Martino, J. A. ; Alernan, M. A. ; Flandre, D.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.520-528,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08
3.

国際会議録
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3. A Simple Method to Model Nonrectangular-Gate Layout in SOI MOSFETs
Giacomini, R. ; Martino, J. A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.472-481,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08
4.

国際会議録
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4. Analysis of the Linear Kink Effect in Partially Depleted SOI NMOSFETs
Agopian, P. G. ; Martino, J. A. ; Simoen, E. ; Claeys, C.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.512-519,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08
5.

国際会議録
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5. Temperature and Oxide Thickness Influence on the Generation Lifetime Determination in Partially Depleted SOI NMOSFETs
Galeti, M. ; Martino, J. A. ; Simoen, E. ; Claeys, C.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.538-547,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08
6.

国際会議録
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6. Temperature Influences on the Drain Leakage Current Behavior in Graded-Channel SOI NMOS FETs
Bellodi, M. ; Martino, J. A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.548-556,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08
7.

国際会議録
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7. Influence of the Gate Oxide Tunneling Effect on the Extraction of the Silicon Film and Front Oxide Thickness in SOI NMOSFET
Paiola, A. G. ; Nicolett, A, S. ; Martino, J. A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.529-537,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08
8.

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8. A Study of Total and Series Resistance and Effective Channel Length Comparing SOI NMOSFET and GC SOI NMOSFET in Saturation Region
de Almeida, G. F. ; Martino, J. A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.492-501,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08
9.

国際会議録
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9. Behavior of Graded Channel SOI Gate-All-Around NMOSFET Devices at High Temperatures
dos Santos, C. D. G. ; Pavanello, M. A. ; Martino, J. A. ; Flandre, D. ; Raskin, J.-P.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2004 : proceedings of the nineteenth international symposium.  pp.9-14,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-03
10.

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10. Simple Method to Determine the Poly Gate Doping Concentration Based on Poly Depletion Effect
Rodrigues, M. ; Sonnenberg, V. ; Martino, J. A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2005 : proceedings of the twentieth international symposium.  pp.180-187,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-08