1.

国際会議録
国際会議録
1. Analysis of the crystallization kinetics and microstructure of polycrystalline SiGe films by optical techniques
Olivares, J. ; Martin, P. ; Rodriguez, A. ; Sangrador, J. ; Martinez, O. ; Jimenez, J. ; Rodriguez, T.
出版情報: Optical microstructural characterization of semiconductors : sympoisum held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.221-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 588
2.

国際会議録
国際会議録
2. Study of grain boundaries in YBCO thin films using microraman spectroscopy
Martinez, O. ; Jimenez, J. ; Martin, P. ; Chambonnet, D. ; Degoy, S. ; Belouet, C.
出版情報: Epitaxial oxide thin films II : symposium held November 26-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.405-410,  1996.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 401
3.

国際会議録
国際会議録
3. Doping Profiles of n-Type GaAs Layers Grown on Si by the Conformal Method
Ardila, Angel M. ; Martinez, O. ; Avella, M. ; Jimenez, J. ; Gerard, B. ; Napierala, J. ; Gil-Lafon, E.
出版情報: Progress in semiconductor materials for optoelectronic applications : symposium held November 26-29, 2001, Boston, Massachusetts, U.S.A.  pp.417-422,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 692
4.

国際会議録
国際会議録
4. Study of Doping in GaAs Layers by Local Probe Techniques: Micro-Raman, Micro-Photoluminescence and Cathodoluminescence
Ardila, Angel M. ; Martinez, O. ; Avella, M. ; Sanz, Luis F. ; Jimenez, J. ; Gerard, B. ; Napierala, J. ; Gil-Lafon, E.
出版情報: Spatially resolved characterization of local phenomena in materials and nanostructures : symposium held December 2-5, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.79-168,  2003.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 738
5.

国際会議録
国際会議録
5. Cathodoluminescence and MicroRaman Study of GaN ELO Structures
Martinez, O. ; Avella, M. ; Jimenez, J. ; Gerard, B. ; Galloway, S.
出版情報: Spatially resolved characterization of local phenomena in materials and nanostructures : symposium held December 2-5, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.91-192,  2003.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 738
6.

国際会議録
国際会議録
6. Raman and Photoluminescence Mapping of Lattice Matched InGaP/GaAs Heterostructures
Attolini, G. ; Fallini, P. ; Germini, F. ; Pelosi, C. ; Martinez, O. ; Sanz, L.F. ; Gonzalez, M.A. ; Jimenez, J.
出版情報: Progress in semiconductor materials for optoelectronic applications : symposium held November 26-29, 2001, Boston, Massachusetts, U.S.A.  pp.91-98,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 692
7.

国際会議録
国際会議録
7. Atomic displacement parameters of carbonate apatites from powder neutron diffraction data
Leventouri, Th. ; Moghaddam, H. Y. ; Papanearchou, N. ; Bunaciu, C. E. ; Levinson, R. L. ; Martinez, O.
出版情報: Mineralization in natural and synthetic biomaterials : symposium held November 29-December 1, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.79-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 599
8.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
8. Simulation Tool for Transmission and Driveline Systems Design.
Martinez, O. ; Kargar, K.
出版情報: 2000 SAE world congress : technical paper.  2000.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2000
9.

国際会議録
国際会議録
9. Update on the INCITS W1.1 standard for evaluating the color rendition of printing systems
Farnand, S. ; Topfer, K. ; Kress, W. C. ; Martinez, O. ; McCarthy, A. L. ; Shin, H. H. ; Zeise, E. K. ; Gusev, D.
出版情報: Image Quality and System Performance II.  pp.157-162,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5668
10.

国際会議録
国際会議録
10. Update on INCITS W1.1 standard for evaluating the color rendition of printing systems
Cookingham, R. ; Dalal, E.N. ; Farnand, S. ; Gusev, D. ; Kress, W.C. ; Martinez, O. ; McCarthy, A. ; Topfer, K. ; Zeise, E.K.
出版情報: Image Quality and System Performance.  pp.55-59,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5294