1.

国際会議録
国際会議録
1. Computational Atomic-Scale Study of the Reactivity of Molecular Fragments from SiH4/H2 Plasma with Amorphous Silicon Surfaces
Ramalingam, S. ; Lopez, A. ; Maroudas, D. ; Aydil, E.S.
出版情報: Proceedings of the International Symposium on Thin Film Materials, Processes, Reliability, and Applications, Thin Film Processes.  pp.35-46,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-30
2.

国際会議録
国際会議録
2. Theory and Computer Simulation of Microstructure Evolution in Polycrystalline Metallic Thin Films
Maroudas, D. ; D'Azvedo, E.F. ; Gray, L.J. ; Pantelides, S.T.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Process Physics and Modeling in Semiconductor Technology.  pp.249-260,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-4
3.

国際会議録
国際会議録
3. Nonlinear Analysis of the Structural Stability of Metals and Covalent Solids Under Stress
Maroudas, D. ; Ludtke, H. ; Ramalingam, S.
出版情報: AIChE ANNUAL MEETING - NOVEMBER 10-15, 1996 - CHICAGO, IL.  1996.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1996
4.

国際会議録
国際会議録
4. Atomic-Scale Modeling of Plasma-Surface Interactions in the PECVD of Silicon
Maroudas, D. ; Ramalingam, S. ; Aydil, E.S.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Fundamental Gas-phase and Surface Chemistry of Vapor-phase Materials Synthesis.  pp.179-190,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-23
5.

国際会議録
国際会議録
5. Modeling of Electromigration-Induced Failure of Metallic Thin Films Interconnects
Maroudas, D. ; Gungor, R. ; Ho, H. ; Gray, L.
出版情報: Proceedings of the Symposia on Electrochemical Processing in ULSI Fabrication I and Interconnect and Contact Metallization: materials, processes, and reliability.  pp.232-243,  1998.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-6
6.

国際会議録
国際会議録
6. Simulation of Interstitial Cluster Mobility and Cluster Mediated Surface Topologies
Wirth, B. D. ; Odette, G. R. ; Maroudas, D. ; Lucas, G. E.
出版情報: Atomistic mechanisms in beam synthesis and irradiation of materials : symposium held December 1-2, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.63-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 504
7.

国際会議録
国際会議録
7. Multiscale Analysis of Interfacial Stability and Misfit Dislocation Formation in Layer-By-Layer Semiconductor Heteroepitaxy
Zepeda-Ruiz, L. A. ; Maroudas, D. ; Weinberg, W. H.
出版情報: Multiscale modelling of materials : symposium held November 30-December 3, 1998, Boston, Massachusets, U.S.A..  pp.335-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 538
8.

国際会議録
国際会議録
8. Modelling of Failure in Metallic Thin Films Induced By Stress and Electromigration: A Multiscale Computational Analysis
Gungor, M. R. ; Gray, L. J. ; Zhou, S. J. ; Maroudas, D.
出版情報: Multiscale modelling of materials : symposium held November 30-December 3, 1998, Boston, Massachusets, U.S.A..  pp.263-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 538
9.

国際会議録
国際会議録
9. Atomic-Scale Simulation of Defect-Induced Amorphization of Crystalline Silicon
Maroudas, D. ; Barone, M.E. ; Meng, B.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Process Physics and Modeling in Semiconductor Technology.  pp.387-397,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-4